Studies on test generation and design for testability based on knowledge for LSIs, 要旨

Studies on test generation and design for testability based on knowledge for LSIs, 要旨

Masato Nakazato

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2007.3

学位論文

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巻号情報

要旨
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • Abstract

R005500

詳細情報

刊年

2007

別書名

知識に基づくLSIのテスト生成とテスト容易化設計に関する研究

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2007年3月

注記

学位記番号: 博第633号

報告番号: 甲第633号

授与年月日: 2007/03/23

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0561023

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

中里, 昌人 (ナカザト, マサト)

件名

sequential test generation

software-based self-test

design for testability

processor testing

test knowledge

at-speed testing