Studies on test generation and design for testability based on knowledge for LSIs, 要旨

Studies on test generation and design for testability based on knowledge for LSIs, 要旨

Masato Nakazato

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2007.3

Thesis / Diss.

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Volume No.

要旨
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • Abstract

R005500

Details

Publication year

2007

Alternative title

知識に基づくLSIのテスト生成とテスト容易化設計に関する研究

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2007年3月

Note

学位記番号: 博第633号

報告番号: 甲第633号

授与年月日: 2007/03/23

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0561023

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

中里, 昌人 (ナカザト, マサト)

Subject

sequential test generation

software-based self-test

design for testability

processor testing

test knowledge

at-speed testing