Studies on test generation and design for testability based on knowledge for LSIs

Studies on test generation and design for testability based on knowledge for LSIs

Masato Nakazato

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2007.3

学位論文

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巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R005327

2

  • [IS]2007

禁帯出

詳細情報

刊年

2007

別書名

知識に基づくLSIのテスト生成とテスト容易化設計に関する研究

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2007年3月

注記

学位記番号: 博第633号

報告番号: 甲第633号

授与年月日: 2007/03/23

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0561023

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

中里, 昌人 (ナカザト, マサト)

件名

sequential test generation

software-based self-test

design for testability

processor testing

test knowledge

at-speed testing