Studies on test generation and design for testability based on knowledge for LSIs

Studies on test generation and design for testability based on knowledge for LSIs

Masato Nakazato

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2007.3

Thesis / Diss.

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Volume No.

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R005327

2

  • [IS]2007

Restricted

Details

Publication year

2007

Alternative title

知識に基づくLSIのテスト生成とテスト容易化設計に関する研究

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2007年3月

Note

学位記番号: 博第633号

報告番号: 甲第633号

授与年月日: 2007/03/23

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0561023

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

中里, 昌人 (ナカザト, マサト)

Subject

sequential test generation

software-based self-test

design for testability

processor testing

test knowledge

at-speed testing