Tsuyoshi Iwagaki
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.9
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1
R003596
2
禁帯出
2004
順序回路の遅延テスト容易化設計ならびに遅延テスト生成に関する研究
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2004年9月
学位記番号: 博第439号
報告番号: 甲第439号
授与年月日: 2004/09/30
学位の種類: 博士(工学)
学生番号: 0261007
英語 (eng)
岩垣, 剛 (イワガキ, ツヨシ)
sequential circuit
delay fault
test generation
partially enhanced scan design
non-scan design
at-speed test
sequential circuitdelay faulttest generationpartially enhanced scan designnon-scan designat-speed test
