Studies on Design for Delay Testability and Delay Test Generation for Sequential Circuits

Studies on Design for Delay Testability and Delay Test Generation for Sequential Circuits

Tsuyoshi Iwagaki

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.9

Thesis / Diss.

There are further volumes for this material.

Show other volumes

Volume No.

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R003596

2

  • [IS]2004

Restricted

Details

Publication year

2004

Alternative title

順序回路の遅延テスト容易化設計ならびに遅延テスト生成に関する研究

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2004年9月

Note

学位記番号: 博第439号

報告番号: 甲第439号

授与年月日: 2004/09/30

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0261007

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

岩垣, 剛 (イワガキ, ツヨシ)

Subject

sequential circuit

delay fault

test generation

partially enhanced scan design

non-scan design

at-speed test