Analysis of performance and reliability improvement in fully solution-processed oxide semiconductor for flexible device application, 要約

Analysis of performance and reliability improvement in fully solution-processed oxide semiconductor for flexible device application, 要約

Umu Hanifah

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2023.9

学位論文

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巻号情報

要約
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • Digest

R018566

詳細情報

刊年

2023

別書名

フレキシブルデバイス応用完全溶液プロセス酸化物半導体の性能および信頼性改善に関する解析

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学先端科学技術研究科博士論文 ; 2023年9月

注記

学位記番号: 博第2005号

報告番号: 甲第2005号

学位授与年月日: 2023/09/30

学位の種類: 博士(工学)

博士論文公表延期中のため、本文に代えて要約を公表中

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

Umu Hanifah

件名

thin-film transistor

oxide semiconductors

solution-processed

flexible device applications

reliability improvement

plasma treatment