Analysis of performance and reliability improvement in fully solution-processed oxide semiconductor for flexible device application, 要約

Analysis of performance and reliability improvement in fully solution-processed oxide semiconductor for flexible device application, 要約

Umu Hanifah

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2023.9

Thesis / Diss.

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Volume No.

要約
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • Digest

R018566

Details

Publication year

2023

Alternative title

フレキシブルデバイス応用完全溶液プロセス酸化物半導体の性能および信頼性改善に関する解析

Series title

奈良先端科学技術大学院大学先端科学技術研究科博士論文 ; 2023年9月

Note

学位記番号: 博第2005号

報告番号: 甲第2005号

学位授与年月日: 2023/09/30

学位の種類: 博士(工学)

博士論文公表延期中のため、本文に代えて要約を公表中

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

Umu Hanifah

Subject

thin-film transistor

oxide semiconductors

solution-processed

flexible device applications

reliability improvement

plasma treatment