詳細情報

刊年

2025

形態

ix, 226p : 挿図 ; 21cm

別書名

Secondary ion mass spectrometry

SIMS

二次イオン質量分析法

シリーズ名

表面分析技術選書

注記

表現種別: テキスト (ncrcontent), 機器種別: 機器不用 (ncrmedia), キャリア種別: 冊子 (ncrcarrier)

初版: 丸善 1999年刊

その他のタイトルはブックジャケットによる

引用・参考文献: 各章末

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

日本表面科学会 (ニホン ヒョウメン カガクカイ) [ 日本表面科学会 (ニホン ヒョウメン カガッカイ) ] [ Surface Science Society of Japan ] [ 日本表面真空学会 (ニホン ヒョウメン シンクウ ガッカイ) ]

分類

NDC9:428.4

NDC10:428.4

NDLC:MC141

件名

表面(工学)

イオンビーム

質量分析

表面 (工学)

ISBN

9784621311356

NCID

BD12063477

番号

NBN : JP24130295

TRC : 25021454

(JP-ToTOH)34741938