Details

Publication year

2025

Form

ix, 226p : 挿図 ; 21cm

Alternative title

Secondary ion mass spectrometry

SIMS

二次イオン質量分析法

Series title

表面分析技術選書

Note

表現種別: テキスト (ncrcontent), 機器種別: 機器不用 (ncrmedia), キャリア種別: 冊子 (ncrcarrier)

初版: 丸善 1999年刊

その他のタイトルはブックジャケットによる

引用・参考文献: 各章末

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

日本表面科学会 (ニホン ヒョウメン カガクカイ) [ 日本表面科学会 (ニホン ヒョウメン カガッカイ) ] [ Surface Science Society of Japan ] [ 日本表面真空学会 (ニホン ヒョウメン シンクウ ガッカイ) ]

Classification

NDC9:428.4

NDC10:428.4

NDLC:MC141

Subject

表面(工学)

イオンビーム

質量分析

表面 (工学)

ISBN

9784621311356

NCID

BD12063477

Number

NBN : JP24130295

TRC : 25021454

(JP-ToTOH)34741938