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組込み自己テスト回路を用いた物理複製困難関数回路のチャレンジレスポンス対の収集効率化および機械学習攻撃耐性の向上

組込み自己テスト回路を用いた物理複製困難関数回路のチャレンジレスポンス対の収集効率化および機械学習攻撃耐性の向上

クミコミ ジコ テスト カイロ オ モチイタ ブツリ フクセイ コンナン カンスウ カイロ ノ チャレンジ レスポンスツイ ノ シュウシュウ コウリツカ オヨビ キカイ ガクシュウ コウゲキ タイセイ ノ コウジョウ

三野智貴

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2020.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R016526

Details

Publication year

2020

Alternative title

Efficient Challenge-Response Pairs Collection and Machine-Learning Attacks Tolerance Improvement for PUF Circuit Using a BIST Circuit

Series title

奈良先端科学技術大学院大学先端科学技術研究科修士論文 ; 43891

Note

学位記番号: 修第8305号

学位授与年月日: 2020/03/31

学位の種類: 修士(工学)

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

三野, 智貴 (ミノ, トモキ)

Subject

物理複製困難関数回路

デバイス認証

論理組込み自己テスト

チャレンジレスポンス対

偽造チップ

機械学習攻撃