組込み自己テスト回路を用いた物理複製困難関数回路のチャレンジレスポンス対の収集効率化および機械学習攻撃耐性の向上

組込み自己テスト回路を用いた物理複製困難関数回路のチャレンジレスポンス対の収集効率化および機械学習攻撃耐性の向上

クミコミ ジコ テスト カイロ オ モチイタ ブツリ フクセイ コンナン カンスウ カイロ ノ チャレンジ レスポンスツイ ノ シュウシュウ コウリツカ オヨビ キカイ ガクシュウ コウゲキ タイセイ ノ コウジョウ

三野智貴

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2020.3

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

電子化情報

R016526

詳細情報

刊年

2020

別書名

Efficient Challenge-Response Pairs Collection and Machine-Learning Attacks Tolerance Improvement for PUF Circuit Using a BIST Circuit

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学先端科学技術研究科修士論文 ; 43891

注記

学位記番号: 修第8305号

学位授与年月日: 2020/03/31

学位の種類: 修士(工学)

標題言語

(jpn)

本文言語

(jpn)

著者情報

三野, 智貴 (ミノ, トモキ)

件名

物理複製困難関数回路

デバイス認証

論理組込み自己テスト

チャレンジレスポンス対

偽造チップ

機械学習攻撃