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経年劣化の緩和と監視に基づく高信頼プロセッサの研究

経年劣化の緩和と監視に基づく高信頼プロセッサの研究

ケイネン レッカノ カンワ ト カンシ ニ モトヅク コウシンライ プロセッサ ノ ケンキュウ

研究代表者新谷道広

[生駒] : [奈良先端科学技術大学院大学], 2014-2017

In-house publ.

Volume No.

Total: 2
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • KAKENJ

R015056

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • KAKENS

R015207

Details

Publication year

2014-2017

Alternative title

Study on high reliable processor based on mitigation and observation of aging

学術研究助成基金助成金実施状況報告書

学術研究助成基金助成金(若手研究(B))実施状況報告書

平成29年度学術研究助成基金助成金(若手研究(B))実施状況報告書

平成26-29年度学術研究助成基金助成金(若手研究(B))成果報告書

Series title

学術研究助成基金助成金(若手研究(B))研究実施状況報告書

学術研究助成基金助成金(若手研究(B))研究成果報告書

Note

課題番号: 15K15960

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

新谷, 道広 (シンタニ, ミチヒロ)

Subject

MOSFET

プロセッサ設計

経年劣化

NBTI

タイミング解析

回路シミュレーション

Number

KAKEN : 15K15960