経年劣化の緩和と監視に基づく高信頼プロセッサの研究

経年劣化の緩和と監視に基づく高信頼プロセッサの研究

ケイネン レッカノ カンワ ト カンシ ニ モトヅク コウシンライ プロセッサ ノ ケンキュウ

研究代表者新谷道広

[生駒] : [奈良先端科学技術大学院大学], 2014-2017

学内論文

巻号情報

全2件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • KAKENJ

R015056

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • KAKENS

R015207

詳細情報

刊年

2014-2017

別書名

Study on high reliable processor based on mitigation and observation of aging

学術研究助成基金助成金実施状況報告書

学術研究助成基金助成金(若手研究(B))実施状況報告書

平成29年度学術研究助成基金助成金(若手研究(B))実施状況報告書

平成26-29年度学術研究助成基金助成金(若手研究(B))成果報告書

シリーズ名

学術研究助成基金助成金(若手研究(B))研究実施状況報告書

学術研究助成基金助成金(若手研究(B))研究成果報告書

注記

課題番号: 15K15960

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

新谷, 道広 (シンタニ, ミチヒロ)

件名

MOSFET

プロセッサ設計

経年劣化

NBTI

タイミング解析

回路シミュレーション

番号

KAKEN : 15K15960