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円偏光光電子回折によるInP及び、In-Ga自己組織化膜のサイト選択的構造解析

円偏光光電子回折によるInP及び、In-Ga自己組織化膜のサイト選択的構造解析

エン ヘンコウ コウデンシ カイセツ ニ ヨル InP オヨビ In-Ga ジコ ソシキカマク ノ サイト センタクテキ コウゾウ カイセキ

松本拓

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2009.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R006953

2

  • [MS]2009(14)

Restricted

Details

Publication year

2009

Alternative title

Site specific structural analysis of InP and In-Ga self-assembled film by circularly-polarized-light photoelectron diffraction

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2009年3月

Note

学位記番号: 修第4525号

学位授与年月日: 2009/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0731084

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

松本, 拓 (マツモト, タク)

Subject

Stereophotograph

Photoelectron diffraction

InP(001)

Dopant site analysis

Self-assembly

surfactant