円偏光光電子回折によるInP及び、In-Ga自己組織化膜のサイト選択的構造解析

円偏光光電子回折によるInP及び、In-Ga自己組織化膜のサイト選択的構造解析

エン ヘンコウ コウデンシ カイセツ ニ ヨル InP オヨビ In-Ga ジコ ソシキカマク ノ サイト センタクテキ コウゾウ カイセキ

松本拓

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2009.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R006953

2

  • [MS]2009(14)

禁帯出

詳細情報

刊年

2009

別書名

Site specific structural analysis of InP and In-Ga self-assembled film by circularly-polarized-light photoelectron diffraction

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2009年3月

注記

学位記番号: 修第4525号

学位授与年月日: 2009/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0731084

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

松本, 拓 (マツモト, タク)

件名

Stereophotograph

Photoelectron diffraction

InP(001)

Dopant site analysis

Self-assembly

surfactant