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組合せ回路テスト生成アルゴリズムに用いる制限シフトスキャンのための制約設定法に関する研究

組合せ回路テスト生成アルゴリズムに用いる制限シフトスキャンのための制約設定法に関する研究

クミアワセ カイロ テスト セイセイ アルゴリズム ニモチイル セイゲン シフト スキャン ノ タメノ セイヤク セッテイホウ ニカンスル ケンキュウ

星野貴昭

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2007.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R005262

2

  • [IS]2007(4)

Restricted

Details

Publication year

2007

Alternative title

Studies on a Method of Setting Constraints for Limited Scan Using a Combinational Test Generation Algorithm

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2007年3月

Note

学位記番号: 修第3532号

授与年月日: 2007/03/23

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0551108

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

星野, 貴昭 (ホシノ, タカアキ)

Subject

順序回路

テスト生成

スキャン設計

テスト実行時間