組合せ回路テスト生成アルゴリズムに用いる制限シフトスキャンのための制約設定法に関する研究

組合せ回路テスト生成アルゴリズムに用いる制限シフトスキャンのための制約設定法に関する研究

クミアワセ カイロ テスト セイセイ アルゴリズム ニモチイル セイゲン シフト スキャン ノ タメノ セイヤク セッテイホウ ニカンスル ケンキュウ

星野貴昭

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2007.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R005262

2

  • [IS]2007(4)

禁帯出

詳細情報

刊年

2007

別書名

Studies on a Method of Setting Constraints for Limited Scan Using a Combinational Test Generation Algorithm

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2007年3月

注記

学位記番号: 修第3532号

授与年月日: 2007/03/23

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0551108

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

星野, 貴昭 (ホシノ, タカアキ)

件名

順序回路

テスト生成

スキャン設計

テスト実行時間