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Co/Cu 多層膜における界面ラフネスの伝播とCCD検出器の薄膜X線散乱への応用

Co/Cu 多層膜における界面ラフネスの伝播とCCD検出器の薄膜X線散乱への応用

Co Cu タソウマク ニオケル カイメン ラフネス ノ デンパ ト CCDケンシュツキ ノ ハクマク Xセン サンラン エノ オウヨウ

児玉謙司

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R003548

2

  • [MS]2005(6)

Restricted

Details

Publication year

2005

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2005年3月

Note

学位記番号: 修第3087号

授与年月日: 2005/03/24

学生番号: 0331030

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

児玉, 謙司 (コダマ, ケンジ)