Co/Cu 多層膜における界面ラフネスの伝播とCCD検出器の薄膜X線散乱への応用

Co/Cu 多層膜における界面ラフネスの伝播とCCD検出器の薄膜X線散乱への応用

Co Cu タソウマク ニオケル カイメン ラフネス ノ デンパ ト CCDケンシュツキ ノ ハクマク Xセン サンラン エノ オウヨウ

児玉謙司

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R003548

2

  • [MS]2005(6)

禁帯出

詳細情報

刊年

2005

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2005年3月

注記

学位記番号: 修第3087号

授与年月日: 2005/03/24

学生番号: 0331030

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

児玉, 謙司 (コダマ, ケンジ)