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Studies on Low Power Partial Scan BIST for RTL Data paths

Studies on Low Power Partial Scan BIST for RTL Data paths

Qi Li

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R003458

2

  • [IS]2005(15)

Restricted

Details

Publication year

2005

Alternative title

RTLデータパスの低消費電力部分スキャン組込み自己テストに関する研究

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2005年3月

Note

学位記番号: 修第2856号

授与年月日: 2005/03/24

学位の種類:修士(工学)

学生番号: 0351150

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

李, 琦 (リ, キ)

Subject

Design for testability

RTL data path

partial scan test

built-in self-test

low power

testing