Studies on Low Power Partial Scan BIST for RTL Data paths

Studies on Low Power Partial Scan BIST for RTL Data paths

Qi Li

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3

学位論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R003458

2

  • [IS]2005(15)

禁帯出

詳細情報

刊年

2005

別書名

RTLデータパスの低消費電力部分スキャン組込み自己テストに関する研究

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2005年3月

注記

学位記番号: 修第2856号

授与年月日: 2005/03/24

学位の種類:修士(工学)

学生番号: 0351150

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

李, 琦 (リ, キ)

件名

Design for testability

RTL data path

partial scan test

built-in self-test

low power

testing