タンイツ タンシ ヘンカ チエン テスト ニ モトズク データ パス ノ テスト ヨウイカ セッケイ
吉川祐樹, 大竹哲史, 井上美智子, 藤原秀雄
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.1
In-house publ.
| No. | Printing year | Location | Call Number | Material ID | Circulation class | Status | Waiting |
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1 |
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R003224 |
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2005
8 p.
Design for testability based on single-port-change delay fault testing for data paths
Information Science Technical Report ; TR2005001
Japan
Japanese (jpn)
Japanese (jpn)
吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)
大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)
井上, 美智子 (イノウエ, ミチコ)
藤原, 秀雄 (1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]
09199527
