タンイツ タンシ ヘンカ チエン テスト ニ モトズク データ パス ノ テスト ヨウイカ セッケイ
吉川祐樹, 大竹哲史, 井上美智子, 藤原秀雄
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.1
学内論文2005
8 p.
Design for testability based on single-port-change delay fault testing for data paths
Information Science Technical Report ; TR2005001
日本語 (jpn)
日本語 (jpn)
吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)
大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)
井上, 美智子 (イノウエ, ミチコ)
藤原, 秀雄 (1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]
09199527
