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プラズマ励起活性種を用いたSiC上ゲート絶縁膜形成と界面電子物性評価

プラズマ励起活性種を用いたSiC上ゲート絶縁膜形成と界面電子物性評価

プラズマ レイキ カッセイシュ オ モチイタ SiCジョウ ゲート ゼツエンマク ケイセイ ト カイメン デンシ ブッセイ ヒョウカ

丹羽孝仁

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R003102

2

  • [MS]2004(10)

Restricted

Details

Publication year

2004

Alternative title

Formation gate insulator on SiC by using plasma-activated species and their characterization

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2004年3月

Note

学位記番号: 修第2754号

授与年月日: 2004/03/24

学生番号: 0231056

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

丹羽, 孝仁 (ニワ, タカヒト)

Subject

SiC

MOS

SiO2/SiC界面

窒素プラズマ

プラズマ励起活性種

SiON膜