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表面酸化GaN基板に対するSiO2成膜プロセス最適化と界面改質機構の評価

表面酸化GaN基板に対するSiO2成膜プロセス最適化と界面改質機構の評価

ヒョウメン サンカ GaN キバン ニ タイスル SiO 2 セイマク プロセス サイテキカ ト カイメン カイシツ キコウ ノ ヒョウカ

原田卓門

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2023.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R018316

Details

Publication year

2023

Alternative title

Optimization of SiO2 deposition process for oxidized GaN and evaluation of interface modification mechanism

Series title

奈良先端科学技術大学院大学先端科学技術研究科修士論文 ; 2023年3月

Note

学位記番号: 修第9325号

学位授与年月日: 2023/03/31

学位の種類: 修士(工学)

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

原田, 卓門 (ハラダ, タクト)

Subject

パワー半導体

GaN

SiO2

プロセスインフォマティクス

ベイズ最適化