Sequential test generation based on circuit pseudo-transformation

Sequential test generation based on circuit pseudo-transformation

Satoshi Ohtake, Tomoo Inoue and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 1997.7

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • TR

R000653

詳細情報

刊年

1997

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR97014

標題言語

(eng)

本文言語

(eng)

著者情報

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

井上, 智生 (イノウエ, トモオ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527