Design for testability based on single-port-change delay testing for data paths

Design for testability based on single-port-change delay testing for data paths

Yuki Yoshikawa, Satoshi Ohtake, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.8

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • TR

R003641

詳細情報

刊年

2005

形態

6 p.

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2005005

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

井上, 美智子 (イノウエ, ミチコ)

藤原, 秀雄 (1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527