テイオン ポリシリコン ハクマク トランジスタ ノ レッカ メカニズム ノ カイセキ
金全健
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.3
1
R003074
2
禁帯出
2004
Degradation mechanism in low-temperature poly-Si TFT
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2004年3月
学位記番号: 修第2726号
授与年月日: 2004/03/24
学生番号: 0231025
日本語 (jpn)
金, 全健 (キン, ゼンケン)
TFT
ホットキャリア
信頼性
結晶性
TFTホットキャリア信頼性結晶性
