Classification of sequential circuits based on combinational test generation complexity

Classification of sequential circuits based on combinational test generation complexity

Chia Yee Ooi and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.1

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No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

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R002733

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詳細情報

刊年

2004

形態

18 p.

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2004001

標題言語

(eng)

本文言語

(eng)

著者情報

Ooi, Chia Yee

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527

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