Universal Test Complexity of Field-Programmable Gate Arrays

Universal Test Complexity of Field-Programmable Gate Arrays

Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara, Hiroyuki Michinishi, Tokumi Yokohira, Takuji Okamoto

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 1999.4

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • TR

R000817

詳細情報

刊年

1999

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR99006

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

井上, 智生 (イノウエ, トモオ)

藤原, 秀雄 (1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

道西, 博行 (ミチニシ, ヒロユキ)

横平, 徳美 (ヨコヒラ, トクミ)

岡本, 卓爾 (オカモト, タクジ)

ISSN

09199527