逆光電子回折現象を利用したバルク敏感性可変原子構造解析法の確立と応用, 平成26年度実績報告書

逆光電子回折現象を利用したバルク敏感性可変原子構造解析法の確立と応用, 平成26年度実績報告書

ギャッコウ デンシ カイセツ ゲンショウ オ リヨウシタ バルク ビンカンセイ カヘン ゲンシ コウゾウ カイセキホウ ノ カクリツ ト オウヨウ

研究代表者松井文彦

[生駒] : [奈良先端科学技術大学院大学], 2013-2016

学内論文

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巻号情報

平成26年度実績報告書
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • KAKENJ

R011960

詳細情報

刊年

2013-2016

別書名

Development and Application of Bulk Sensitivity Controllable Atomic Structure Analysis Method by "Inverse Photoelectron Diffracion"

科学研究費補助金実績報告書

科学研究費補助金成果報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))成果報告書

平成25年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成26年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成27年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成28年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成25-28年度科学研究費補助金(基盤研究(B))成果報告書

シリーズ名

科学研究費補助金(基盤研究(B))研究実績報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

注記

課題番号: 25287075

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

松井, 文彦 (マツイ, フミヒコ)

件名

表面・界面構造

表面・界面物性

光電子回折

Auger電子

二次電子

非弾性散乱

原子構造

放射光・軟X線

表面・界面

被弾性散乱過程

番号

KAKEN : 25287075