リン導入による界面改質を行ったシリコンカーバイド熱酸化膜の信頼性評価

リン導入による界面改質を行ったシリコンカーバイド熱酸化膜の信頼性評価

リン ドウニュウ ニ ヨル カイメン カイシツ オ オコナッ タ シリコン カーバイド ネツ サンカマク ノ シンライセイ ヒョウカ

森下隆至

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2012.3

Thesis / Diss.

Volume No.

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R009260

2

  • [MS]2012(13)

Restricted

Details

Publication year

2012

Alternative title

ffect of POCl3 Annealing on Reliability of Thermal Oxides Grown on 4H-SiC

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2012年3月

Note

学位記番号: 修第5541号

学位授与年月日: 2012/3/23

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1031086

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

森下, 隆至 (モリシタ, リュウジ)

Subject

シリコンカーバイド

MOS

信頼性

リン導入