偏光分析CMOSセンサによるマイクロリアクタ統合型in situ不斉計測システムに関する研究

偏光分析CMOSセンサによるマイクロリアクタ統合型in situ不斉計測システムに関する研究

ヘンコウ ブンセキ CMOS センサ ニ ヨル マイクロリアクタ トウゴウガタ in situ フセイ ケイソク システム ニ カンスル ケンキュウ

松岡均

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2012.3

学位論文

巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R009255

2

  • [MS]2012(13)

禁帯出

詳細情報

刊年

2012

別書名

Development of microreactor-compatible in situ chiral analysis system using polarization-analyzing CMOS image sensor

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2012年3月

注記

学位記番号: 修第5536号

学位授与年月日: 2012/3/23

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1031080

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

松岡, 均 (マツオカ, ヒトシ)

件名

偏光計測

CMOSイメージセンサ

不斉計測

マイクロリアクタ