断面走査トンネル顕微鏡観察を目指したSi(111)ウェハー劈開断面作製システムの確立

断面走査トンネル顕微鏡観察を目指したSi(111)ウェハー劈開断面作製システムの確立

ダンメン ソウサ トンネル ケンビキョウ カンサツ オ メザシタ Si(111) ウェハー ヘキカイ ダンメン サクセイ システム ノ カクリツ

立花和也

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2012.3

学位論文

巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R009228

2

  • [MS]2012(9)

禁帯出

詳細情報

刊年

2012

別書名

Development of a cross-sectional STM system for a thin film with an interface region on a Si wafer

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2012年3月

注記

学位記番号: 修第5509号

学位授与年月日: 2012/3/23

学位の種類: 修士(理学)

学生番号: 1031050

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

立花, 和也 (タチバナ, カズヤ)

件名

XSTM

劈開

界面

電子状態