テスト タイミング オ コウリョ シタ コウヒンシツ チエン テスト ノ タメ ノ テスト セイセイ
西原有哉
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2012.3
学位論文| No. | 刷年 | 所在 | 請求記号 | 資料ID | 貸出区分 | 状況 | 予約人数 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
1 |
|
電子化情報 |
|
R008975 |
|
|
|
|
2 |
|
|
|
禁帯出 |
|
2012
{Test Pattern Generation for High Quality Delay Testing in Consideration of Test Timings
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2012年3月
学位記番号: 修第5267号
学位授与年月日: 2012/3/23
学位の種類: 修士(工学)
学生番号: 1051081
(jpn)
(jpn)
西原, 有哉 (ニシハラ, ユウヤ)
