Studies on F-Scan: A Design for Testability Method for Functional RTL Circuits

Studies on F-Scan: A Design for Testability Method for Functional RTL Circuits

Marie Engelene J. Obien

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2011.3

Thesis / Diss.

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Volume No.

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R008554

Details

Publication year

2011

Alternative title

機能RTL回路のFスキャンテスト容易化設計法に関する研究

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2011年3月

Note

学位記番号: 博第981号

学位授与年月日: 2011/03/24

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0861209

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

Obien Engelene Jimenez, Marie

Subject

scan-based design for testability

functional register transfer level circuits

automatic test pattern generation

high level testing

delay fault testing

assignment decision diagrams