偏光分析CMOSイメージセンサの高精度化とin situ不斉計測への応用

偏光分析CMOSイメージセンサの高精度化とin situ不斉計測への応用

ヘン コウ ブンセキ CMOS イメージセンサ ノ コウセイドカ ト in situ フセイ ケイソク エノ オウヨウ

藤岡侑司

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2011.3

学位論文

巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R008519

2

  • [MS]2011(13)

禁帯出

詳細情報

刊年

2011

別書名

High Precision of a polarization-analyzing CMOS image sensor and application for in stiu chiral measurement

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2011年3月

注記

学位記番号: 修第5195号

学位授与年月日: 2011/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0931065

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

藤岡, 侑司 (フジオカ, ユウジ)

件名

マイクロリアクタ

偏光

不斉計測

偏光分析CMOSイメージセンサ

メントール計測

インラインフローセル