角度分解光電子分光法によるPb吸着Si(110)表面近傍の電子状態測定

角度分解光電子分光法によるPb吸着Si(110)表面近傍の電子状態測定

カクド ブンカイ コウデンシ ブンコウホウ ニヨル Pb キュウチャク Si(110) ヒョウメン キンボウ ノ デンシ ジョウタイ ソクテイ

山中佑一郎

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2010.3

学位論文

巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R007739

2

  • [MS]2010(17)

禁帯出

詳細情報

刊年

2010

別書名

Electron state of Pb/Si(110) surface measured by Angle-Resolved photoemission spectroscopy.

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2010年3月

注記

学位記番号: 修第4874号

学位授与年月日: 2010/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0831093

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

山中, 佑一郎 (ヤマナカ, ユウイチロウ)

件名

角度分解光電子分光