少品種高信頼セルを用いた高信頼回路設計手法と信頼性評価手法

少品種高信頼セルを用いた高信頼回路設計手法と信頼性評価手法

ショウヒンシュ コウシンライ セル オ モチイタ コウシンライ カイロ セッケイ シュホウ ト シンライセイ ヒョウカ シュホウ

大賀健司

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2010.3

学位論文

巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R007469

2

  • [IS]2010(6)

禁帯出

詳細情報

刊年

2010

別書名

Design and Reliability Evaluation Methods of High Reliable Logic Circuit Using Highly Reliable Cells

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2010年3月

注記

学位記番号: 修第4604号

学位授与年月日: 2010/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0851016

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

大賀, 健司 (オオガ, ケンジ)

件名

高信頼論理回路

製造ばらつき

耐故障性

故障検出