テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法

テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法

テスト ジッコウジ ノ オンド キンイツカ ノ タメノ テストパターン ナラビカエホウ

中尾良

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2010.3

学位論文

巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R007435

2

  • [IS]2010(3)

禁帯出

詳細情報

刊年

2010

別書名

Test Pattern Re-Ordering for Thermal-Uniformity during Test

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2010年3月

注記

学位記番号: 修第4570号

学位授与年月日: 2010/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0851073

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

中尾, 良 (ナカオ, マコト)

件名

温度均一化

テストパターン並び替え

遅延テスト

VLSI