Studies on Power, Thermal & False-path Aware Test Techniques for Modern System-on-Chips, 要旨

Studies on Power, Thermal & False-path Aware Test Techniques for Modern System-on-Chips, 要旨

Thomas Edison Chua Yu

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2009.3

Thesis / Diss.

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Volume No.

要旨
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • Abstract

R007027

Details

Publication year

2009

Alternative title

電力、温度およびフォールスパスを考慮したシステムオンチップのテスト技術に関する研究

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2009年3月

Note

学位記番号: 博第812号

報告番号: 甲第812号

学位授与年月日: 2009/03/24

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0661211

Country of publication

Japan

Title language

English (eng)

Language of texts

English (eng)

Author information

Yu, Thomas Edison Chua

Subject

SoC

low-power

low-temperature

multi-cycle

design-for-testability

false-path identification