Studies on design for delay testability and over-testing reduction for delay faults

Studies on design for delay testability and over-testing reduction for delay faults

Yuki Yoshikawa

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2007.3

学位論文

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巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R005328

2

  • [IS]2007

禁帯出

詳細情報

刊年

2007

別書名

遅延テスト容易化設計ならびに遅延故障に対する過剰テストの緩和に関する研究

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2007年3月

注記

学位記番号: 博第634号

報告番号: 甲第634号

授与年月日: 2007/03/23

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0561036

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)

件名

LSI testing

Delay fault

Design-for-testability

Over-testing

False path