データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究, 要旨

データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究, 要旨

データ パス ノ キョウカ ケンサセイ ニ モトヅク テスト ヨウイカ セッケイ ナラビニ テスト ヨウイカ コウイゴウセイ ニ カンスル ケンキュウ

和田弘樹

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2001.3

Thesis / Diss.

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Volume No.

要旨
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • Abstract

R004505

Details

Publication year

2001

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2001年3月

Note

学位記番号: 博第173号

報告番号: 甲第173号

授与年月日: 2001/03/23

学位の種類: 博士(工学)

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

和田, 弘樹 (ワダ, ヒロキ)

Subject

強可検査性

テスト容易化設計

テスト容易化高位合成

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