データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究

データパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計ならびにテスト容易化高位合成に関する研究

データ パス ノ キョウカ ケンサセイ ニ モトヅク テスト ヨウイカ セッケイ ナラビニ テスト ヨウイカ コウイゴウセイ ニ カンスル ケンキュウ

和田弘樹

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2001.3

学位論文

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巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R001709

2

  • [IS]2001

禁帯出

詳細情報

刊年

2001

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2001年3月

注記

学位記番号: 博第173号

報告番号: 甲第173号

授与年月日: 2001/03/23

学位の種類: 博士(工学)

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

和田, 弘樹 (ワダ, ヒロキ)

件名

強可検査性

テスト容易化設計

テスト容易化高位合成

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