Chia Yee Ooi
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2006.9
この資料には他にも巻号があります。
他の巻号を見る
1
R004347
2
禁帯出
2006
τ[k]-表記法に基づく縮退故障およびパス遅延故障のテスト生成複雑度に関する研究
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2006年9月
学位記番号: 博第602号
報告番号: 甲第602号
授与年月日: 2006/09/29
学位の種類: 博士(工学)
学生番号: 0361215
英語 (eng)
Ooi, Chia Yee
τ[k]-notation
easy testability
combinational/acyclic test generation complexity
design/synthesis for testability (DFT/SFT)
stuck-at faults
path delay faults
τ[k]-notationeasy testabilitycombinational/acyclic test generation complexitydesign/synthesis for testability (DFT/SFT)stuck-at faultspath delay faults
![Studies on test generation complexity for stuck-at and path delay faults based on τ[k]-notation](/opac/images/cyan/icon_our_thesis.png){kind=icon}
