システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究, 平成18年度実績報告書

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究, 平成18年度実績報告書

システムオンチップ ノ テスト アーキテクチャ ト テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル キソ ケンキュウ

研究代表者藤原秀雄

[生駒] : [奈良先端科学技術大学院大学], 2004-2007

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Volume No.

平成18年度実績報告書
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

  • KAKENJ

R005561

Details

Publication year

2004-2007

Alternative title

科学研究費補助金実績報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成17年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(B))実績報告書

科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

平成15年度-平成18年度科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書

Series title

科学研究費補助金基盤研究(B)研究成果報告書 ; 平成15-18年度

Note

課題番号:15300018

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

English (eng) ; Japanese (jpn)

Author information

藤原, 秀雄 (1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

Subject

システムオンチップ

テスト容易化設計

連続可検査

連続透明

テストアーキテクチャ

テストアクセス機構

相互最適化

コアベース設計

NCID

BA82291496

Number

KAKEN : 15300018