Studies on Design for Delay Testability and Delay Test Generation for Sequential Circuits, 要旨

Studies on Design for Delay Testability and Delay Test Generation for Sequential Circuits, 要旨

Tsuyoshi Iwagaki

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2004.9

学位論文

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巻号情報

要旨
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • Abstract

R004771

詳細情報

刊年

2004

別書名

順序回路の遅延テスト容易化設計ならびに遅延テスト生成に関する研究

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科博士論文 ; 2004年9月

注記

学位記番号: 博第439号

報告番号: 甲第439号

授与年月日: 2004/09/30

学位の種類: 博士(工学)

学生番号: 0261007

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

岩垣, 剛 (イワガキ, ツヨシ)

件名

sequential circuit

delay fault

test generation

partially enhanced scan design

non-scan design

at-speed test