低温ポリシリコン薄膜トランジスタの発熱劣化メカニズムの解明

低温ポリシリコン薄膜トランジスタの発熱劣化メカニズムの解明

テイオンポリシリコンハクマクトランジスタノハツネツレッカメカニズムノカイメイ

北島浩司

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3

Thesis / Diss.

Volume No.

No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R003482

2

  • [MS]2005(5)

Restricted

Details

Publication year

2005

Alternative title

Thermal Degradation of Low Temperature Poly-Si TFT

Series title

奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士論文 ; 2005年3月

Note

学位記番号: 修第3079号

授与年月日: 2005/03/24

学生番号: 0331021

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

北島, 浩司 (キタジマ, コウジ)

Subject

Thermal

Degradation

Poly-Si

TFT