単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計に関する研究

単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計に関する研究

タンイツ タンシ ヘンカ チエン テスト ニ モトズク データパス ノ テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ

吉川祐樹

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.3

学位論文

巻号情報

No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

R003454

2

  • [IS]2005(14)

禁帯出

詳細情報

刊年

2005

別書名

Studies on Design for Testability Based on Single-Port-Change Delay Fault Testing for Data Paths

シリーズ名

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2005年3月

注記

学位記番号: 修第2854号

授与年月日: 2005/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 0351144

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)

件名

パス遅延故障

単一端子変化2パタンテスト

非スキャンテスト容易化設計

階層テスト生成